Ziel dieser Lehrveranstaltung ist, sich mit moderner Nano-Messtechnik vertraut zu machen, mit Schwerpunkt auf Rasterkraftmikroskopie. Dazu gehören die relevante Instrumentierungstechnik und die besonderen experimentellen Herausforderungen im Nanometerbereich. Inhalt: Physik im Nanometerbereich, Kräfte, Skalierungseffekte, hochauflösende Bildgebungssysteme, Rastertunnelmikroskopie (STM), Atomkraftmikroskopie (AFM), Kelvinsondenmikroskopie (KPFM), Magnetische Kraftmikroskopie (MFM), Kraftmessungen, Einzelmolekülspektroskopie, Dynamik von AFM, Bildverarbeitung, nanomechanische Charakterisierung, Nanoindentierung.
Die LVA wird in englischer Sprache abgehalten.
Die Vorlesungsunterlagen und weiteres Kursmaterial werden jedes Jahr aktualisiert und zum Download für registrierte Studenten auf TISS zur Verfügung gestellt